UL1T1
  UNTESTABLE ANALOG TESTS DIGITAL TESTS STUCK FAULT TESTS
Pin Grid Nail Net Name Pin Attribute BScan Attribute PWR NC Analog CD TJ MDA STT VM PAT TTL MEM OBP I2C BS TPG TREE CLK Drives Senses Stuck Fault Result
1 1 738 L1_CTR NA NA GND      
2 2 0 L1_MDI_N3 NA NA No Test
3 3 0 L1_MDI_P3 NA NA No Test
4 4 738 L1_CTR NA NA GND      
5 5 0 L1_MDI_N2 NA NA No Test
6 6 0 L1_MDI_P2 NA NA No Test
7 7 738 L1_CTR NA NA GND      
8 8 0 L1_MDI_N1 NA NA No Test
9 9 0 L1_MDI_P1 NA NA No Test
10 10 738 L1_CTR NA NA GND      
11 11 0 L1_MDI_N0 NA NA No Test
12 12 0 L1_MDI_P0 NA NA No Test
13 13 734 L1_TR_P0 NA NA           X                                  
14 14 1249 L1_TR_N0 NA NA           X                                  
15 15 751 L1_CMT3 NA NA No Test
16 16 1248 L1_TR_P1 NA NA           X                                  
17 17 1251 L1_TR_N1 NA NA           X                                  
18 18 750 L1_CMT2 NA NA No Test
19 19 1250 L1_TR_P2 NA NA           X                                  
20 20 1247 L1_TR_N2 NA NA           X                                  
21 21 748 L1_CMT1 NA NA No Test
22 22 1246 L1_TR_P3 NA NA           X                                  
23 23 1252 L1_TR_N3 NA NA           X                                  
24 24 737 L1_CMT0 NA NA           X                                  
Total   4         9                                  

¡@

  Analog Test Digital Test Overall
Tested Pins 9 0 9
Testable Pins 20 20 20
Coverage 45.0% 0.0% 45.0%